Доклад посвящёна задаче рендеринга петрографических шлифов одноосных кристаллов. Описывается специфическая трехмерная сцена – модель петрографического микроскопа. Особенности алгоритма: а) физически корректная модель взаимодействия света с элементами сцены; б) рендеринг поляризованным лучом; в) учет интерференционных эффектов; г) применение интерференционной карты. В докладе приводятся результаты численных экспериментов и обсуждаются полученные изображения.